《半导体材料测试与分析》 - 杨德仁 - 科学出版社 - 香港大書城 - Meg Book Store

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『簡體書』半导体材料测试与分析

書城自編碼： 2720580
分類：簡體書→大陸圖書→工業技術→電子/通信
作者：杨德仁
國際書號(ISBN)： 9787030270368
出版社：科学出版社
出版日期： 2010-04-01

頁數/字數： 381页
書度/開本： 16 釘裝：精装

售價：HK$ 436.6

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內容簡介：

半导体材料是微电子、光电子和太阳能等工业的基石，而其电学性能、光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量，因此，半导体材料性能和结构的测试和分析，是半导体材料研究和开发的重要方面。本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容：包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V 等测试分析技术。
本书可供大专院校的半导体物理、材料与器件、材料科学与工程和太阳能光伏等专业的高年级学生、研究生和教师作教学用书或参考书，也可供从事相关研究和开发的科技工作者和企业工程师参考。

目錄：

前言
第1章电阻率测试
第2章扩展电阻测试
第3章少数载流子寿命测试
第4章少数载流子扩散长度测试
第5章霍尔效应测试
第6章红外光谱测试
第7章深能级瞬态谱测试
第8章正电子湮没谱测试
第9章光致荧光谱测试
第10章紫外-可见吸收光谱测试
第11章电子束诱生电流测试
第12章 I-V和C-V测试

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