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內容簡介： 本书是当今射频和微波器件测量领域的一本实用参考手册和工具书,讨论了*的射频微波器件测量技术及*的测量实践。本书前面的章节先引入一些基本概念,接着在后续章节深入探讨各种有源和无源器件的测量与应用案例,让读者能够全面了解微波器件测量的重要细节,向用户提供了一套全新的见解,指引用户通过实践了解被测器件的真实特性。它的实用性还在于向读者介绍了如何找到*化的测量设置方法、如何把现代化矢量网络分析仪的强大功能应用到*的极限,以及如何在测量结果中去除测量设备可能对被测器件特性的影响。 關於作者： Joel Dunsmore 博士是安捷伦科技公司院士级的专家。自1983 年从俄勒冈州立大学毕业以后, Joel 博士在惠普 安捷伦已经工作了30 多年, 在射频微波测试领域积累了丰富的理论和实践经验作了30 多年, 在射频微波测试领域积累了丰富的理论和实践经验。 陈新摇2003 年毕业于成都电子科技大学, 同年加入安捷伦科技担任计量软件工程师, 2006 年开始担任PNA 固件工程师, 是脉冲测量、增益压缩、差分测试等应用的主要开发者。与Joel 合作在IEEE ARFTG 年会上发表论文一篇。

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