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『簡體書』ASIC物理设计要点

書城自編碼： 3875443
分類：簡體書→大陸圖書→工業技術→電子/通信
作者： [美]霍斯鲁·戈尔山著，崔志颖 译
國際書號(ISBN)： 9787030754974
出版社： 科学出版社
出版日期： 2023-06-01

頁數/字數： /
書度/開本： 16开 釘裝： 平装

售價：HK$ 66.7

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內容簡介：
《ASIC物理设计要点》旨在阐述ASIC物理设计所需的基本步骤，方便读者了解ASIC设计的基本思想。《ASIC物理设计要点》以行业通用ASIC物理设计流程顺序进行编排，从ASIC库的一般概念开始，依次介绍布局、布线、验证及测试，涵盖的主题包括基本标准单元设计、晶体管尺寸和布局风格、设计约束和时钟规划、用于布局的算法、时钟树综合、用于全局和详细布线的算法、寄生参数提取、功能验证、时序验证、物理验证、并联模块测试等。与直接阐述深层次的技术不同，《ASIC物理设计要点》重点放在简短、清晰的描述上，抓住物理设计的本质，向读者介绍物理设计工程的挑战性和多样化领域。
目錄：
目录第1章 库 11.1 标准单元 21.2 晶体管尺寸 101.3 输入/输出PAD 131.4 库参数化 191.5 总结 25参考文献 27第2章 布局规划 292.1 技术文件 302.2 电路描述 322.3 设计约束 352.4 设计规划 372.5 PAD布局 392.6 电源规划 422.7 宏模块布局 442.8 时钟规划 482.9 总结 50参考文献 52第3章 布局 533.1 全局布局 543.2 局部布局 603.3 时钟树综合 663.4 功耗分析 733.5 总结 75参考文献 77第4章 布线 794.1 特殊布线 804.2 全局布线 814.3 详细布线 874.4 寄生参数提取 924.5 总结 104参考文献 106第5章 验证 1075.1 功能验证 1085.2 时序验证 1105.3 物理验证 1255.4 总结 128参考文献 130第6章 测试 1316.1 功能测试 1336.2 扫描测试 1366.3 边界扫描测试 1386.4 故障测试 1406.5 参数测试 1416.6 电流和极低电压测试 1426.7 晶圆验收测试 1446.8 存储器内建自测试 1466.9 并联模块测试 1486.10 总结 148参考文献 151

 

 

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